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- 1、光學測厚儀
光學測厚儀
Ametek（阿美特克）：美國品牌重慶掃描色差儀報價，提供包括在線和離線類型在內的各種類型的測厚儀重慶掃描色差儀報價，滿足不同用戶的需求。Flir（費勒爾）：美國品牌，其紅外測厚儀非常著名，適用于需要非接觸式測量的場景。ZEISS（蔡司）：德國品牌，以其出色的光學測厚儀而聞名，適用于對精度要求極高的測量任務。
光學薄膜測厚儀的核心技術介紹和原理說明：SpectraThick系列的特點在于其非接觸式、非破壞性的測量方式，無需對樣品進行任何預處理。該系列儀器支持Windows操作系統，操作簡便。ST系列專門用于測量wafer、glass等基片上形成的氧化膜、氮化膜、光刻膠等非金屬薄膜的厚度。
厚度儀：這是專門用于測量厚度的儀器，根據工作原理不同有超聲厚度儀、磁性厚度儀等。超聲厚度儀通過超聲波在材料中的傳播時間來測量厚度，可測各種材料重慶掃描色差儀報價；磁性厚度儀適用于測量磁性基體上非磁性涂層的厚度。
光學薄膜測厚儀 (SpectraThick Series) 的核心技術介紹和原理說明 SpectraThick series的特點是非接觸， 非破壞方式測量，無需樣品的前處理，軟件支持Windows操作系統等。ST series是使用可視光測量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金屬薄膜厚度的儀器。
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